据报道，威斯康星大学麦迪逊分校（University of Wisconsin-Madison）、圣路易斯华盛顿大学（Washington University in St. Louis）和美国半导体公司豪威科技（OmniVision Technologies）的研讨人员获得新发现：集成在图画传感器芯片上的最新纳米结构组件很有或许会对多模态成像发生严重影响。

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